2011 рік

• Включення інформації про правовий статус патентів Японії до бази даних INPADOC

На початку 2012 року до бази даних ЄПВ INPADOC буде завантажено інформацію щодо правового статусу (починаючи з квітня 2011 року) патентів Японії на винаходи та корисні моделі. Ця інформація стосуватиметься, наприклад, рішень про видачу патенту (JP A01), сплати зборів (JP FRAY), запитів про надання ліцензії (JP S201) тощо.

У 2011 році фахівцями ЄПВ було вжито ряд заходів для покращення якості колекції даних Японії в ЄПВ. За останні декілька місяців було проведено чимало перевірок та оптимізацій (повторного введення даних) для синхронізації ідентифікаторів публікацій. Керуючись принципом WYSIWYG («що бачу, те і отримую»), ЄПВ намагається, наскільки це можливо, надавати номери публікацій Японії у власних базах даних у форматі, що повністю відповідає номерам, які друкуються на титульних сторінках оригінальних документів.

Ще однією віхою на шляху залучення патентної інформації Японії є включення рефератів англійською мовою для японських публікацій (Патентних рефератів Японії), а також класифікаційної інформації FI (покажчик файлів) і F-term (система класифікації патентних документів Японії) до баз даних ЄПВ.

Повільно, але впевнено база даних ЄПВ про правовий статус наближається до того рівня, коли вона охоплюватиме інформацію з усіх провідних патентних відомств світу.

• H01L21/027B2 перетворюється на H01L21/02718
Новий веб-сайт, присвячений Спільній класифікаційній системі (CPC)

Після того, як СРС набере чинності на початку 2013 року, ЄПВ перетворить усі символи ECLA (Європейської патентної класифікації) у своїй колекції документів на нові символи СРС.

Завдяки ECLA експерти мають у своєму розпорядженні 140000 класифікаційних символів. Це дає змогу виконувати більш точну класифікацію ніж за допомогою МПК, яка містить тільки 70000 символів. По суті, ECLA це поглиблена МПК, тож користувачі, які розуміють структуру і володіють основними навичками користування МПК, можуть використовувати ECLA майже без будь-яких складнощів.

Наприклад, символ МПК B60T7/04 використовується для класифікування транспортних гальм, що приводяться в дію ногами:

- B60T7/00
Засоби для включання гальмування
- B60T7/02
• для особистого включання
- B60T7/04
•• що приводяться в дію ногами
В ECLA, група В60Т7/04 має наступні підкласи:
- В60Т7/04В
••• електричними засобами, наприклад за допомогою датчиків руху або зусилля
- В60Т7/04С
••• за допомогою механізмів блокування і розблокування, наприклад із застосування ручного гальма
- В60Т7/04С1
•••• наступний підклас В60Т7/04С – ручні механізми розблокування.

Іноді заголовки символів ECLA мають додаткові примітки, на відміну від символів МПК. Вони наводяться у квадратних дужках після літери “N”. Наприклад, В60Т7/20, що охоплює гальма «спеціально для причепів, наприклад у випадку відчеплення (N: або обгону) причепа (гальма для випадків обгону машини причепом за інерцією В60Т13/08)».

Перехід до СРС

Після перетворення символів ECLA на символи СРС усі літери, що містяться у символах ECLA після скісної риски (“/”) будуть замінені на цифри. Таким чином H01L21/027B перетвориться на H01L21/02709, H01L21/027B2 перетвориться на H01L21/02718 тощо.

Примітки, такі як «[N: або обгону]», як зазначено вище, залишаться без змін.

Коди ICO

Окрім 140000 класифікаційних символів ECLA також містить так звані коди ICO. Експерти використовують коди ICO для класифікування тих особливостей винаходу, які не охоплюються звичайними символами ECLA. Існує близько 200000 кодів ICO. Вони наразі не доступні для пошуку в базі даних Espacenet, але в багатьох комерційних патентних базах даних вони вже надані.

Після перетворення ECLA в СРС коди ICO також будуть частиною СРС і будуть доступними для пошуку в Espacenet.
Коди ICO поділяються на чотири категорії:

• Символи, «дзеркальні» до ECLA – структура кодів ідентична структурі символів ECLA; використовуються експертами для класифікування додаткової інформації;
• Символи розгалуження - подальші підкласи символів ECLA;
• Незалежні коди – використовуються для класифікування винаходів за критеріями, відмінними від критеріїв ECLA.

Наприклад, якщо ECLA характеризує винахід відповідно до особливостей процесу, то коди ICO можуть бути використані для характеристики того ж винаходу відповідно до матеріалів, які обробляються під час цього процесу;

• Коди поглибленого індексування – ці коди використовуються для позначення окремих ознак винахідницького задуму (ідеї). Вони можуть використовуватися, наприклад, для класифікування різноманітних інгредієнтів у фарбі або клеї.

З метою розрізнювання кодів ICO і символів ECLA використовуються різні (відмінні) перші літери, наприклад код ICO T01L21/285B4 є еквівалентом символу ECLA H01L21/285B4. Ці відмінності будуть усунені в СРС.

Нещодавно Відомство США з патентів і торговельних марок (USPTO) і ЄПВ запустили веб-сайт – www.cpcinfo.org, який містить інформацію і короткий огляд СРС, а також графік робіт, пов’язаних із впровадженням СРС, аж до 2013р.

У таблиці, наведеній нижче, показано, якого вигляду символи ECLA і коди ICO набудуть в СРС:

Тип символу	Правило перетворення	Приклад нового символу СРС
ECLA	Усі літери після скісної риски (“/”) замінюються цифрами	H01L21/28512
ICO
Символи, «дзеркальні» до ECLA	Усі літери після скісної риски (“/”) замінюються цифрами, крім того, змінюється перша буква символу, наприклад “Т” на “Н”	H01L21/28512
Символ розгалуження	Усі літери після скісної риски (“/”) замінюються цифрами, крім того, змінюється перша буква символу, наприклад “Т” на “Н”	H01L21/2852
Незалежний код	Для утворення серії «СРС 2000» додається цифра «2» після підкласу; усі літери після скісної риски (“/”) замінюються цифрами; крім того, змінюється перша літера символу, наприклад “Т” на “Н”	H01L21/228512
Код поглибленого індексування	Для утворення серії «СРС 3000» додається цифра «3» після підкласу; усі літери після скісної риски (“/”) замінюються цифрами; крім того, змінюється перша літера символу, наприклад “Т” на “Н”	H01L21/328512

• Зміни до МПК у 2012 році

ВОІВ надала доступ до переглянутої схеми Міжнародної патентної класифікації (МПК), яка набере чинності 1 січня 2012 року, за адресою www.wipo.int/ipcpub.

Оберіть версію 2012.01 у колонці «Версія», що розташована зліва, а потім натисніть на вкладку «Компіляція». Французьку версію можна обрати в меню «Мова», що знаходиться зліва.

Зміни відображаються у табличному форматі з використанням наступних кодів:

D – вилучення
C – модифікація зі зміною обсягу або із здійсненням рекласифікації
M – модифікація без зміни обсягу і без здійснення рекласифікації
N – нове
U – залишається без змін у цій мовній версії, але змінюється у іншій мовній версії

Багато змін підпадають під категорію М і стосуються роз’яснення заголовків позначень. Деякі підкласи МПК, а саме A63C, B24B, B60W, B65B, C10J, D04H, E21B, F16D, F16H, G01C, G01P, G03F, G06Q, G11B, H01J, H01L, містять більш суттєві зміни.

Зміни, що стосуються G06Q, запроваджують багато нових підгруп. Це відповідає давній потребі у більш вдосконаленому розподілі підгруп у цій сфері.

ЄПВ поновить індекси МПК усіх документів у своїх базах даних на момент набрання чинності переглянутою версією, а саме на 1 січня. Це також вимагатиме якнайскорішого узгодження індексів за класифікацією ECLA з новою МПК.

• Китай приєднується до мінімуму документації РСТ, починаючи з липня 2012 року

Патентна документація Китаю незабаром стане частиною мінімуму документації РСТ і повинна буде включатися до результатів пошуку за заявками на патенти, що подаються за процедурою РСТ. Відповідна поправка до правила 34 Інструкції РСТ стосуватиметься будь-якої міжнародної заявки (незалежно від дати її міжнародного подання), для якої міжнародний пошук виконуватиметься з 1 липня 2012 року. Додаткова інформація міститься у документі, доступному за адресою:
http://www.wipo.int/edocs/mdocs/govbody/en/pct_a_42/pct_a_42_2.pdf.

Джерело інформації: Patent Information News #4/2011

• Спільні цитовані документи

Провідні патентні відомства постійно намагаються знайти шляхи підвищення ефективності власної діяльності та обміну інформацією. Однією з переваг такої роботи для громадськості стане об’єднання результатів пошуку в єдиний документ під назвою «спільний цитований документ» (common citation document), або СЦД (CCD).

Наприклад, якщо пошук винаходу здійснюється відомствами тристороннього договору, а саме, Європейським патентним відомством (ЄПВ), Патентним відомством США з патентів і торговельних марок (USPTO) і Японським патентним відомством (JPO), кожне з цих відомств надає власні результати пошуку. СЦД міститиме об’єднані результати пошуку у вигляді переліку окремих документів, на які посилаються експерти кожного відомства.

Звичайно, зміст спільних цитованих документів буде динамічним та інтерактивним. Вони оновлюватимуться, щойно надходитимуть нові результати пошуку, і кожне цитування міститиме гіперпосилання на відповідний документ у базі даних Espacenet.

Згідно існуючого проекту, інтерфейс для роботи з тристороннім СЦД буде доступний для громадського використання у листопаді 2011 року. ЄПВ планує розмістити в Espacenet посилання на записи в СЦД, надавши таким чином доступ до упорядкованого списку цитувань, який охоплюватиме усіх членів відповідного сімейства патентних документів.

Джерело інформації: Patent Information News 2/2011

• Об’єднаний європейський патент

13 квітня 2011 року Європейська комісія презентувала проекти положень щодо охорони прав, які надає об’єднаний патент і відповідні домовленості стосовно перекладу.

Перший проект положень передбачає, за відповідним запитом власника патенту, можливість перетворення звичайного («класичного») європейського патенту, що видається Європейською патентною організацією (ЄПО), в об’єднаний патент, чинний на території усіх 25 членів Європейського Союзу (ЄС), задіяних у проекті (Італія та Іспанія наразі не беруть у ньому участі). Об’єднаний патент функціонуватиме поряд з національним і конвенційним європейським патентом.

Другий представлений проект положень щодо підготовки перекладу матеріалів стосовно об’єднаного патенту, передбачає використання перевіреної та апробованої системи перекладу ЄПВ, що базується на трьох офіційних мовах (англійській, французькій і німецькій). Це дозволить уникнути виконання ручного перекладу.

Пропозиції стосовно об’єднаного патенту передбачають, що ЄПО видаватиме європейський патент за звичайною процедурою відповідно до Європейської патентної конвенції, а потім власник патенту запитуватиме перетворення свого патенту на об’єднаний.

Наразі представлені проекти положень розглядаються Радою ЄС і Європейським парламентом. Передбачається, що перший об’єднаний патент буде виданий у 2013 році.

Джерело інформації: Patent Information News 2/2011

• ЄПВ та USPTO співпрацюють над спільною класифікаційною системою

ЄПВ та Відомство з патентів і торговельних марок США (USPTO) узгодили впровадження нової Кооперативної патентної класифікації.

Нова спільна класифікаційна система, запланована для запровадження у 2012 році, буде спільно адмініструватися ЄПВ та USPTO. Кооперативна патентна класифікація (СРС) використовуватиме як основу Європейську класифікаційну систему (ECLA) з урахуванням найкращого класифікаційного досвіду USPTO. Вона буде більш детальною, ніж МПК, та покращуватиме патентний пошук.

Переваги для патентних пошуковців

Нова система матиме переваги для патентних пошуковців, найголовнішою з яких буде більша відповідність між схемами, що використовуються ЄПВ та USPTO для класифікування своїх колекцій документів. Для пошуковців, які вже користувалися ECLA, СРС буде досить знайомою.

На початку СРС матиме ідентичні збіги зі структурою та змістом ECLA. Наразі ECLA має вдвічі більше підрозділів ніж МПК, і тому розподіляє технологію за більшою кількістю категорій з меншою кількістю документів у кожній категорії. Переміщення ECLA до СРС означатиме, що патентні пошуковці, які сьогодні користуються ECLA, зможуть з легкістю проводити пошук документів США, а також будь-якого іншого відомства, яке в подальшому вирішить користуватися схемою СРС. Також планується, що СРС вміщуватиме внутрішні ІСО-коди ЄПВ (додаткові коди, що використовуються експертами ЄПВ у процесі здійснення пошуку), що є додатковим покращенням, яке в подальшому полегшуватиме пошуковий процес.

Що стосується формату, то єдиною відмінністю буде те, що літери, які стоять після символу «/» в позначенні ECLA, будуть замінені на цифри, наприклад H04L29/08A7 зміниться на H04L29/0817.

Графік впровадження

Впровадження СРС потребуватиме від обох відомств внесення певних змін до їх систем з метою підтримки нової класифікаційної системи. Паралельно з налаштуванням обладнання вони також повинні будуть розробити специфічні для кожної галузі класифікаційні правила, які встановлюватимуть, як експерти та пошуковці повинні класифікувати документи в приблизно 600 конкретних галузях технології, включених до СРС. Це відповідатиме існуючій практиці класифікування, коли СРС набере чинності та сприятиме підтримці навчання експертів USPTO.

Із середини 2012 року ECLA буде призупинена, оскільки це гарантуватиме стабільність індексів для переходу до СРС у кінці того ж самого року. З цього моменту СРС буде підтримуватися у співробітництві з USPTO.

Якщо все йтиме за планом, після перехідного періоду, який розпочнеться у 2012 році, ЄПВ та USPTO класифікуватимуть усі свої документи з використанням СРС, починаючи з 2013 року.

• Esp@cenet змінює назву

У зв’язку з тим, що в деяких випадках символ «@» викликає проблеми в текстових процесорах і редакторах, а також у системах управління контентом, які інтерпретують esp@cenet як адресу електронної пошти і автоматично відтворюють назву у вигляді гіперпосилання (esp@cenet), ЄПВ прийняло рішення замінити символ «@» звичайною літерою латинського алфавіту «a».

Віднині база даних, розміщена за адресою http://worldwide.espacenet.com, матиме назву Espacenet.

• Впроваджено новий індекс МПК для класифікування нанотехнологій

Відтепер усі патентні відомства світу класифікуватимуть нанотехнології за системою Міжнародної патентної класифікації (МПК). Для цього з 1 січня 2011 року було впроваджено новий індекс МПК – B82Y, створений на базі системи індексів Y01N, що раніше використовувалася ЄПВ для позначення заявок на патенти, пов’язаних з винаходами у сфері нанотехнологій.

Новий індекс B82Y покликаний спростити пошук відповідних патентних документів у цій важливій галузі техніки, адже він є частиною як схеми МПК, так і ECLA (Європейської класифікації). Що стосується ECLA, ЄПВ у своїх базах даних перемістило всі документи, що були опубліковані до 2011 року у сфері нанотехнологій, з підкласу Y01N до підкласу B82Y.

Відповідність між Y01N і B82Y показано в таблиці нижче.

Відповідність між Y01N i B82Y

B82Y5	= Y01N2	Нанобіотехнології або наномедицина
B82Y10	= Y01N4	Нанотехнології для обробляння, зберігання і передавання інформації
B82Y15	= Y01N8	Нанотехнології для взаємодії, сприйняття і надавання руху
B82Y20	= Y01N10	Нанотехнології для оптики
B82Y25	= Y01N12	Наномагнетизм
B82Y30	= Y01N6	Нанотехнології для матеріалознавства і досліджування поверхонь
B82Y35	(новий)	Методи або прилади для вимірювання або аналізу наноструктур
B82Y40	(новий)	Виробництво або обробляння наноструктур

Пошук інформації стосовно винаходів у сфері нанотехнологій у базі даних Espacenet та інших патентно-інформаційних продуктах здійснюється так само як і раніше, але в процесі здійснення пошуку в патентних базах даних індекси Y01N у пошуковому рядку «ECLA» необхідно заміняти відповідними індексами B82Y (див. таблицю). Наразі доступні нові класи B82Y35 і B82Y40, що додатково розширюють можливості пошуку.

Для пошуку документів, позначених індексом «B82Y» як класифікаційного індексу МПК, потрібно використовувати пошуковий рядок «IPC» (МПК).

Позначки «Y02» в ECLA, що використовуються для пошуку документів, пов’язаних з технологіями пом’якшування кліматичних умов, не змінилися.

• Електронний інтерфейс ВОІВ для поновлення міжнародних промислових зразків

Всесвітня організація інтелектуальної власності (ВОІВ) циркуляром С.Н79 від 09.02.2011 повідомляє про запуск Міжнародним бюро інтерфейсу для електронного поновлення міжнародних промислових зразків.

Зазначений електронний інтерфейс є он-лайн сервісом для користувачів (власників охоронних документів) з метою можливості повного та часткового поновлення міжнародних промислових зразків, складання рахунку та сплати його з використанням електронної системи передачі інформації. Він дозволяє користувачам перегляд відтворень промислових зразків, що вміщуються в реєстрації, яка має поновлюватись, а також перегляд будь-якої інформації, що стосується даної реєстрації.

Доступ до зазначеного інтерфейсу надається за адресою:

https://webaccess.wipo.int/erenewal_dm/erenewal.jsp.

• Європейські документи А і В

Користувачі, які регулярно відвідують патентно-інформаційні служби для фахівців на веб-сайті ЄПВ, мають можливість ознайомитися із нещодавно розміщеною новою базою даних під назвою "European Patent Documents" ("Європейські патентні документи"), що розташована поряд із базами даних "European Patent Applications" ("Заявки на європейські патенти") і "Granted European Patents" ("Видані європейські патенти"). Нова база даних містить інформацію стосовно заявок на одержання європейських патентів і виданих патентів за останні чотири тижні у єдиній "об’єднаній" базі даних.

У новій базі даних можна виконувати пошук за 48 критеріями, що є значно більшим показником, ніж в окремих колекціях документів ЕР-А і ЕР-В, які надають тільки 33 і 31 критерій для пошуку відповідно. Можна виконувати пошук за описом (повним текстом), назвами і рефератами оригінальними мовами, а також за формулою виданого патенту трьома офіційними мовами. Новий критерій – "First Filing Date" ("Дата першого подання") - включає дату подання заявки, або – якщо заявляється пріоритет – дату більш раннього пріоритету. Також є можливість виконувати пошук виділених і первісних (з більш раннім пріоритетом) заявок.

Нова база даних замінила собою дві окремі бази даних, що містили заявки на одержання європейських патентів і видані європейські патенти за останні чотири тижні. Обслуговування цих баз даних було призупинено в кінці 2010 року.

ЄПВ планує поступово розширювати зміст нової бази даних для включення повної колекції європейських патентних документів з можливістю пошуку.

2010 рік

• Видано новий посібник "Патентна документація. Комплектування та можливості доступу до неї в Україні"

У І кварталі 2010 року Державним підприємством "Український інститут промислової власності" видано посібник "Патентна документація. Комплектування та можливості доступу до неї в Україні".

Протягом квітня 2010 року посібник був надісланий до відповідних установ та організацій по всій Україні – всього 255 примірників.

Зокрема, посібник надіслано для комплектування патентних фондів:

• органів національної системи НТІ (у тому числі, УкрІНТЕІ, Державної науково-технічної бібліотеки, регіональних ЦНТЕІ) – 56 примірників;
• обласних наукових бібліотек – 50 примірників;
• вищих навчальних закладів України, які готують фахівців за спеціальністю «інтелектуальна власність» – 75 примірників;
• наукових установ НАН України – 50 примірників;
• інших установ та організацій – 24 примірники.

Автори посібника звертають увагу користувачів на те, що з часу виходу посібника у світ могли відбутися зміни в он-лайн адресах безоплатних баз даних (БД) об’єктів промислової власності, які наведені в Додатку 2 цього посібника. Тому деякі адреси, що зазначені в ньому, можуть бути застарілими.

Якщо користувачі стикаються з випадками, коли не можуть знайти відповідну БД за наведеною в посібнику адресою, необхідно уточнювати адреси на веб-сайті Укрпатенту: розділ "Гіперпосилання", рубрика "Перелік адрес зарубіжних баз даних об’єктів промислової власності, до яких надається безоплатний доступ в Інтернеті", який регулярно оновлюється.

• Припиняється видання деяких серій дисків

З 2010 року Європейське патентне відомство припиняє видання таких серій дисків:

ESPACE WORLD
ESPACE ACCESS
ESPACE FIRST
ESPACE ACCESS-EPC

Натомість пропонує новий платний онлайн-продукт Global Patent Index (GPI), який надає значний діапазон нових можливостей пошуку – 100 пошукових полів і більш ніж 70 мільйонів патентних документів. Більш повна інформація про GPI розміщена на веб-сайті ЄПВ за адресою:
http://www.epo.org/patents/patent-information/subscription/gpi/details.html

Угорщина – як офіційний розповсюджувач дисків серій ESPACE PRECES, ESPACE ACCES та TRACES – повідомила про рішення припинити публікацію дисків цієї серії з 2010 року – всі дані доступні на сайтах національних відомств.

• Онлайнова пошукова послуга ВОІВ PATENTSCOPE® - потужний інструмент для здійснення пошуку інформації в патентних документах

Для спрощення пошуку різноманітної технічної інформації, яка міститься в патентних документах, ВОІВ створила онлайнову пошукову послугу PATENTSCOPE®, яка наразі містить дані про більш ніж 1,6 млн. міжнародних заявок на винаходи, поданих згідно з Договором про патентну кооперацію (Patent Cooperation Treaty, PCT).

Послуга надає доступ до міжнародних заявок у форматі повного тексту в день їхньої публікації. Пошук може здійснюватись за ключовими словами, іменами заявників, індексами МПК, а також багатьма іншими критеріями пошуку. Зручна для заявників функціональність цієї послуги забезпечила ширший доступ до системи й підвищила корисність інформації, розміщеної в ній. Є можливість безоплатного роздруку або вивантаження документів. Результати пошуку можна спостерігати через інструменти графічного аналізу, можна також відслідковувати розвиток техніки в конкретних галузях.

Послуга PATENTSCOPE® також надає вільний доступ до змісту файлів та важливої інформації про статус міжнародної патентної заявки щодо всіх заявок, опублікованих з 1978 року. Зокрема, користувачі можуть отримати доступ до письмових висновків міжнародної попередньої експертизи стосовно конкретної патентної заявки, що дає змогу скласти думку про її патентоздатність і значимість у країнах, де заявник має намір отримати охорону, а також доступ до даних про національну фазу РСТ для більш ніж 30 країн.

Нещодавно ВОІВ повідомила про удосконалення PATENTSCOPE®, яке покращить доступ загальної публіки до інформації про подані заявки на винаходи і патенти, видані в різних країнах світу. Зокрема, наразі до PATENTSCOPE® включено декілька національних та регіональних колекцій патентної інформації, а саме: Африканської регіональної організації інтелектуальної власності (ARIPO), Куби, Ізраїлю, Республіки Корея, Мексики, Сінгапура, Південної Африки та В’єтнаму. Завдяки співпраці ВОІВ з цими відомствами, в їх колекціях даних можна здійснювати повний пошук. Значна частина цих даних раніше не була оцифрована, і їх пошук представляв неабияку складність. Передбачається, що з часом до PATENTSCOPE® будуть включені патентні колекції інших відомств.

Більш повна інформація про послугу PATENTSCOPE® розміщена на веб-сайті ВОІВ за адресою: http://www.wipo.int/pctdb/en/index.jsp

• Esp@cenet стає розумнішим

Нова послуга "SmartSearch" є зручною новинкою, розробленою командою esp@cenet для проведення будь-якого виду патентного пошуку. Послуга дозволяє здійснювати пошуки за одним ключовим словом або формувати складні пошукові запити, наприклад:

"SmartSearch” підходить для початківців, тому що:

 

• не вимагає глибокого розуміння структури патентних даних;
• достатньо лише ввести імена винахідників, заявників, номери заявок або патентів, дати, ключові слова в пошукове поле, і система сама присвоїть їм відповідні ідентифікатори полів.

 

Послуга "SmartSearch" задовольнить потреби досвідчених користувачів, тому що вона приймає складні пошукові запити з командного рядка мовою CQL (Contextual Query Language, Контекстна мова запитів). Зі "SmartSearch" можливий пошук:

• за складними запитами;
• за додатковими полями;
• з використанням логічних операторів;
• з використанням операторів близькості та усікання;
• з використанням пошукових термінів у дужках.

Таблицю, яка відображає всі ідентифікатори полів і оператори пошуку для CQL, можна побачити ТУТ.

Користувачі можуть розмістити послугу "SmartSearch" на власних веб-сторінках або навіть на інтранет-сторінках. Послуга доступна за адресою http://ep.espacenet.com.

ЄПВ пропонує користувачам дізнатися про нові можливості esp@cenet з перших рук, взявши участь у безоплатному віртуальному семінарі, що відбудеться 17.07.2009 (детальніше про умови участі у віртуальних семінарах ЄПВ дивіться тут: http://www.ukrpatent.org/ua/epo1.html).